“環(huán)境試驗設(shè)備技術(shù)條件”系列標(biāo)準(zhǔn)是由以下8個標(biāo)準(zhǔn)組成，涉及到的設(shè)備分別有濕熱試驗箱、鹽霧試驗箱、長霉試驗箱、低溫濕熱箱、高低溫/低氣壓試驗箱、高溫/低氣壓試驗箱、高低溫試驗箱、高溫試驗箱。
GBT 10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GBT 10587-2006 鹽霧試驗箱技術(shù)條件
GBT 10588-2006 長霉試驗箱技術(shù)條件
GBT 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
GBT 10590-2006 高低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GBT 10591-2006 高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GBT 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GBT 11158-2006 高溫試驗箱技術(shù)條件
該系列標(biāo)準(zhǔn)均適用于電子電工及其他產(chǎn)品、零部件及材料進行試驗的試驗箱。
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